产品概述
Optris Xi80LT55x55 是一款工业用非接触式红外热像仪，结合了红外热像仪和红外测温仪的优势。其80x80像素的热成像图可快速识别热点，无需繁琐定位。集成的点查找功能可自动识别视野中最热或最冷点，并处理和传输温度数据，无需外部计算机。Xi80具有多种视场角选择，从80°广角到12°长焦，适用于不同测量距离。其坚固设计确保在恶劣工业环境中的可靠性，且价格实惠，适合替代传统固定点测温仪或用于OEM应用。
核心特点/优势
- 80x80像素热成像图，快速识别热点
- 集成点查找功能，自动识别最热/最冷点
- 支持多种视场角（12°x12°, 30°x30°, 55°x55°, 80°x80°）
- 电动对焦，距离与点比率高达190:1
- 支持USB 2.0、以太网、PoE、RS485等多种接口
- IP67防护等级，适用于恶劣工业环境
- 支持多种工业协议，如Ethernet/IP、ProfiNet、Modbus TCP
- 热灵敏度（NETD）为100mK，测量精度±2°C或±2%，取较大者
应用领域
- 工业设备温度监测
- 生产线热分布分析
- 科研实验中的非接触测温
- OEM集成应用
选型指南/使用建议
根据测量距离和目标大小选择合适的视场角型号（12°x12°, 30°x30°, 55°x55°, 80°x80°）。建议在0°C至50°C环境下使用，相对湿度不超过95%且无凝结。支持USB、以太网供电或5-30 VDC电源输入。可选配工业过程接口（PIF）以增强模拟输入/输出功能。预热时间为10分钟，确保测量精度。
Xi80LT55x55 测温仪选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 像素间距 | 34 µm | |
| 光学分辨率 | 80×80 像素 | |
| 探测器 | 非制冷红外探测器 |
产品替代
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