Optris Xi80LT30x30 测温仪

Optris Xi80 LT 30°x30°工业自主点查找红外热像仪

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2025-11-14 15:33:36
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  • Xi80LT30x30

  • 测温仪

  • Optris

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产品概述

Optris Xi80LT30x30 是一款工业用非接触式红外热像仪,结合了红外热像仪和红外测温仪的优势。该设备提供完整的80x80热成像图,能够快速识别视野内的最热点或最冷点,并自动处理和传输温度数据,无需外部计算机支持。Xi80LT30x30具备30°x30°视场角,适用于多种工业环境,其坚固设计和高性价比使其成为替代传统固定红外点测温仪的理想选择。

核心特点/优势

  • 集成点查找功能,自动识别最热点或最冷点
  • 支持自主运行,无需外部计算机
  • 提供80x80像素红外热成像,实现高分辨率温度分布分析
  • 支持多种接口:USB 2.0、以太网、PoE、RS485
  • 具备高精度测量能力,精度为±2°C或±2%,取较大者
  • 热灵敏度为100mK,适用于高精度温度检测
  • IP67防护等级,适用于恶劣工业环境
  • 支持多种测量模式,包括区域评估、线扫描、事件捕捉等

应用领域

  • 工业自动化中的温度监控
  • 设备故障检测与预防性维护
  • 科研实验中的热分布分析
  • 生产线质量控制
  • 高温设备的实时温度监测

选型指南/使用建议

建议根据实际测量距离和目标尺寸选择合适的视场角型号。Xi80LT30x30适用于中等距离的温度测量,最小可检测点大小为1.4mm,最小可测量点大小为2.8mm。设备支持USB、以太网供电或5-30VDC电源输入,适用于多种工业供电环境。工作温度范围为0°C至50°C,存储温度范围为-40°C至70°C,相对湿度为10–95%(无凝结)。设备支持多种通信协议,如Ethernet/IP、ProfiNet、Modbus TCP等,便于集成到工业控制系统中。

Xi80LT30x30 测温仪选型参数

规格项 参数值 勾选搜索替代
更多规格
像素间距 34 µm
光学分辨率 80×80 像素
光谱范围 8 – 14 µm
功耗 最大 2.5 W
外壳材料 不锈钢
工作温度范围 0…50°C
帧率 50 Hz
探测器类型 非制冷红外探测器
接口类型 USB 2.0 / 以太网 (100 Mbit/s) / PoE / RS 485
最小可检测点大小 (IFOV) 1.4mm
最小可测量点大小 (MFOV) 2.8mm
测量精度 ±2 °C 或 ±2 %,取较大者
测量范围 -20 °C … 100 °C, 0 °C … 250 °C, 150 °C … 900 °C
热灵敏度 (NETD) 100mK
电源 USB 或以太网供电或 5-30 VDC
视场角 30°x30°
重量 210 g(不含安装支架)
防护等级 IP67, NEMA-4

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