ZSY 真尚有科技 EVCD系列高精度位移传感器 光电传感器

产品概述

在现代制造业中，光学镜头的厚度测量扮演着至关重要的角色。准确测量镜头厚度不仅关系到光学成像质量，还直接影响成品的整体性能，因此在光学镜头的生产和质量控制环节中，采用高精度的测量设备显得尤为重要。这些测量不仅需要高精度和高分辨率，还要求能够适应不同材质和复杂形状的测量需求，以确保每一片镜头都符合严格的质量标准。

为了解决这些问题，英国真尚有推出的EVCD系列共焦传感器成为光学镜头厚度测量的理想选择。这一系列传感器具备非接触测量的特点，能够在不损伤样品的情况下，精确测量透明材料的厚度，最小可测厚度达到5μm，最大可测厚度可达17078μm。该系列传感器的采样频率高达33,000Hz，分辨率最高可达1nm，确保在高速度和高精度的需求下，依然能够提供可靠的数据。

核心特点/优势

• 非接触测量，避免对样品造成损伤
• 支持透明材料厚度测量，最小可测厚度5μm
• 采样频率高达33,000Hz，适合高速测量场景
• 分辨率最高可达1nm，满足高精度测量需求
• 可稳定测量金属、陶瓷、玻璃等多种材质
• 支持弧面、斜面等复杂形状测量，最大可测倾角87°
• 模块化设计，IP65防护等级，适应多种工业环境
• 支持小批量、低成本定制，满足特殊项目需求

应用领域

• 光学镜头厚度测量
• 多层材料厚度测量
• 复杂形状工件测量
• 高精度质量控制

选型指南/使用建议

EVCD系列共焦位移传感器适用于需要高精度、高速度、非接触测量的工业场景。建议根据具体测量对象的材质、形状、厚度范围以及环境条件进行选型。传感器具备IP65防护等级，可在多种工业环境中稳定运行。模块化设计便于集成，支持小批量定制，适合对测量精度和灵活性有特殊要求的项目。