ZSY 真尚有科技 EVCD系列光谱共焦传感器 光电传感器
英国真尚有_高精度位移传感器EVCD系列平面度测量解决方案
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2026-07-31 15:19:34
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EVCD系列光谱共焦传感器
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产品概述
在现代电子产品的制造中,玻璃屏幕的平面度测量是一项至关重要的检测环节。随着智能手机、平板电脑及各类显示设备的普及,确保玻璃屏幕的平面度不仅关系到产品的美观,更直接影响着使用体验和显示效果。因此,准确测量玻璃屏幕的平面度成为制造商必须面对的任务。
英国真尚有科技推出的EVCD系列光谱共焦传感器,采用先进的光谱共焦技术,能够实现高达33,000Hz的采样频率,最高分辨率达1nm,线性精度达±0.01%F.S.,部分型号甚至可精确到±0.01μm。该系列传感器量程范围从±55μm至±5000μm,适用于不同厚度和材质的玻璃屏幕测量。
核心特点/优势
- 采样频率高达33,000Hz,实现高速、高精度测量
- 分辨率高达1nm,线性精度达±0.01%F.S.
- 支持多种材质测量,包括金属、陶瓷和玻璃
- 具备多层介质识别能力,最多可识别五层不同介质
- 量程范围广,从±55μm至±5000μm,满足多种应用场景
- 支持小批量、低成本定制,满足特殊项目需求
- 相比传统检测设备,具备更高的精度、更快的响应速度和更强的适应性
应用领域
- 玻璃屏幕平面度测量
- 显示设备制造中的高精度位移检测
- 多层材料厚度测量
- 精密制造中的表面形貌分析
选型指南/使用建议
根据测量对象的材质、厚度及测量精度需求选择合适的量程型号。建议在稳定、无强光干扰的环境中使用,以确保测量精度。EVCD系列支持小批量定制,适用于对测量精度和响应速度有特殊要求的项目。
EVCD系列光谱共焦传感器 光学三角测量位置传感器选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 性 能 | ||
| 分辨率 | 1nm | |
| 特 性 | ||
| 采样频率 | 33,000Hz | |
| 更多规格 | ||
| 多层介质识别能力 | 最多五层 | |
| 材质适应性 | 金属、陶瓷、玻璃 | |
| 线性精度 | ±0.01%F.S. | |
| 量程范围 | ±55μm 至 ±5000μm |
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