中昊芯测 SC2010功率半导体分立器件静态参数测试仪系统/晶体管特性图示 仪器仪表

产品概述

中昊芯测SC2010功率半导体分立器件静态参数测试仪系统是一款高性能的半导体晶体管参数测试图示设备，作为美国STI5000系列测试机的国产替代机型，专为功率器件研发、质检及高校实验室设计。该系统采用ATE系统逐点建立数据，可自动生成功率器件的I-V曲线，并支持根据客户需求自定义功能测试，直接读取数显结果。系统测试速度极快（典型6-20ms），数据捕获后可直接导入EXCEL等格式进行深度分析，是一款高效、多功能的高端半导体测试设备。

核心特点/优势

• 高精度与高分辨率：测试精度达0.2%+2LSB，电压分辨率1mV，电流分辨率0.1nA，确保数据准确可靠。
• 极速测试效率：测试速度约0.5ms/参数，上百个数据点曲线仅需几秒钟即可展现，大幅提升测试吞吐量。
• 宽范围与多类型支持：支持0-2KV电压与0-100A电流测试，覆盖17大类26分类分立器件，涵盖90%以上静态参数。
• 智能保护与诊断：内置过电保护功能及门极过电保护适配器，提供广泛的诊断测试与自我测试代码，实时检测设备状态与测试结果。
• 便捷的数据交互：支持USB或RS232连接电脑，通过友好人机界面操作，测试数据可一键保存为EXCEL和WORD格式，便于后续研究与报告生成。

应用领域

• 测试分析：功率器件研发设计阶段的初始测试
• 失效分析：对失效器件进行测试，查找失效机理，为电子整机设计与使用过程提供改善方案
• 选型配对：器件焊接至电路板前进行全测，将测试数据一致的器件分类配对
• 来料检验：研究所及电子厂质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控良品率
• 量产测试：可连接机械手、扫码枪、分选机等辅助设备，实现规模化、自动化测试

选型指南/使用建议

本系统需通过USB或RS232接口与计算机连接，配合专用测试软件使用。建议根据被测器件类型（如IGBT、MOSFET、BJT、二极管等）选择合适的测试夹具，并启用过电保护适配器以确保设备安全。系统支持程控脉冲式测试（脉宽300us至5ms），适用于对热效应敏感器件的静态参数测量。在量产或自动化产线应用中，可无缝对接机械手、扫码枪及分选机，实现数据自动存储与分类。设备规格尺寸为570×450×280mm，适合标准实验室或产线工作台部署。