产品概述
Mettler-Toledo XP155KS 实验室天平是一款高精度的实验室/分析天平，适用于对测量精度和可追溯性要求极高的应用场景。该天平具备高达600万点的分辨率，结合水平机构设计，能够在最短的加工时间内实现高精度测量。独特的彩色触摸屏终端使操作更加直观便捷，内置的WeighCom应用程序可引导用户完成质量测定流程，并支持空气浮力校正，以确保测量结果的准确性。
核心特点/优势
- 最高测量性能，确保5400公斤称重结果的完全可追溯性
- 高达600万点的分辨率，实现最短时间内的高精度测量
- 彩色触摸屏终端，操作直观便捷
- WeighCom内置应用程序，支持空气浮力校正，确保最佳测量结果
- 适用于高要求的实验室和工业环境
应用领域
- 实验室质量测定
- 分析化学
- 材料科学
- 药品研发
- 半导体制造
XP155KS 实验室天平选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 容量 | 150000 g (5292 oz) | |
| 数据接口 | Serial | |
| Display | Digital Display | |
| Interface | Serial | |
| 外形尺寸（长） | 600 to 800 mm (23.62 to 31.5 inch) | |
| Product Category | Laboratory Balances | |
| 分辨率 | 0.0500 g (0.001764 oz) | |
| Specifications | undefined | |
| 类型 | Laboratory / Analytical Balance | |
| 产品类别 | Laboratory Balances | |
| 显示类型 | Digital Display | |
| 最大秤量 | 150000 g (5292 oz) | |
| 长度 | 600 to 800 mm (23.62 to 31.5 inch) |
产品替代
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