产品概述
Mettler-Toledo XP1003KM 实验室天平是一款高性能的实验室/分析天平，适用于需要高精度质量测定的场景。该天平具备高达600万点的分辨率，确保在最短的加工时间内实现峰值精度，满足严格的质量测定要求。独特的彩色触摸屏终端使操作更加便捷，内置的WeighCom应用程序可引导用户完成质量测定过程，并提供空气浮力校正功能，以获得最佳测量结果。
核心特点/优势
- 最高测量性能和5400公斤称重结果的完全可追溯性
- 高达600万点的分辨率，确保测量精度
- 彩色触摸屏终端，操作便捷
- WeighCom内置应用程序，提供空气浮力校正功能
- 适用于最短加工时间内的高精度质量测定
应用领域
- 实验室质量测定
- 分析化学
- 质量控制
- 科研实验
XP1003KM 行业活动选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 性 能 | ||
| 分辨率 | 0.5000 g (0.017640 oz) | |
| 特 性 | ||
| 秤量 | 1.10E6 g (38808 oz) | |
| 最大秤量 | 1100000 g (38808 oz) | |
| 连 接 & 显 示 | ||
| 用户界面 | 数字显示 | |
| 物 理 | ||
| 长度 | 800 至 1000 mm (31.5 至 39.37 英寸) | |
| 更多技术信息 | ||
| 设备形式 | 实验室/分析天平 | |
| 更多规格 | ||
| 接头类型 | 串口 | |
| 显示 | Digital Display | |
| Interface | Serial | |
| 产品类别 | 实验室天平 | |
| Specifications | undefined | |
| Type | Laboratory / Analytical Balance |
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