产品概述
ams-OSRAM TSL2014 是一款高性能线性CCD图像传感器，由896个光电二极管组成，用于检测和测量光强度。该传感器通过模拟输出、I²C和SPI接口提供灵活的数据输出方式，适用于多种光学测量和工业自动化场景。
核心特点/优势
- 高精度线性光学阵列，提供896像素的分辨率
- 支持模拟、I²C和SPI三种输出方式，适用于多种系统集成
- 宽波长响应范围（400 nm至1000 nm），适用于多种光源
- 支持串行和并行操作模式，灵活适应不同应用需求
- 低噪声设计，输出噪声电压为1 mVrms
- 高响应度（16 V/(μJ/cm²) 至 28 V/(μJ/cm²)），适用于低光环境
- 宽供电电压范围（4.5 V至5.5 V），适应多种电源配置
- 高ESD耐受性（2000 V），增强设备可靠性
应用领域
- 工业检测：用于高精度光学测量和质量控制
- 光学测量：适用于光谱分析和光强检测
- 自动化设备：用于机器人视觉和自动识别系统
- 机器视觉：适用于图像采集和处理系统
- 光谱分析：用于科研和工业光谱测量
选型指南/使用建议
在选择和使用TSL2014时，建议注意以下事项：
- 供电电压应保持在4.5 V至5.5 V之间，以确保稳定工作
- 建议在VDD和地之间连接一个0.1 μF的旁路电容，以减少电源噪声
- 模拟输出端需连接一个330 Ω的下拉电阻，以确保输出稳定
- 工作频率范围为5 kHz至5000 kHz，可根据应用需求选择合适的时钟频率
- 积分时间范围为0.1792 ms至100 ms，可通过调整时钟频率和时序控制
- 工作温度范围为-25°C至85°C，适用于工业环境
- 建议在高精度测量中使用外部参考光源，以确保测量一致性
TSL2014 专用传感器选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| ESD耐受性 | 2000 V | |
| 传感器类型 | 线性光学阵列 | |
| 供电电压范围 | 4.5 V 至 5.5 V | |
| 供电电流 | 53 mA 至 80 mA | |
| 像素响应非均匀性（PRNU） | 7% 至 20% | |
| 像素数量 | 896 | |
| 响应度（Re） | 16 V/(μJ/cm²) 至 28 V/(μJ/cm²) | |
| 响应波长范围 | 400 nm 至 1000 nm | |
| 图像滞后 | 0.5% | |
| 存储温度范围 | -25°C 至 85°C | |
| 工作温度范围 | -25°C 至 85°C | |
| 工作频率范围 | 5 kHz 至 5000 kHz | |
| 暗信号非均匀性（DSNU） | 25 mV 至 120 mV | |
| 最大积分时间 | 100 ms | |
| 最小积分时间 | 179.2 μs | |
| 模拟输出电压范围 | 0 V 至 3.4 V | |
| 输入电容（CLK） | 70 pF | |
| 输入电容（SI） | 35 pF | |
| 输出噪声电压 | 1 mVrms | |
| 输出类型 | 模拟，I²C，SPI | |
| 非线性度 | ±0.4% | |
| 饱和曝光（SE） | 155 nJ/cm² | |
| 饱和输出电压 | 2.5 V 至 3.4 V |
产品替代
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资料下载
TSL2014 专用传感器资源附件
| 文件名称 | 大小 | 操作 |
|---|---|---|
| TSL2014.pdf | 138.70 KB | 下载 |
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