CNSCAN 天策电子 S4表面平整度检测系统 分布式薄膜压力传感器
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2025-03-25 10:30:19
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S4表面平整度检测系统
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S4表面平整度检测系统 分布式薄膜压力传感器选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 性 能 | ||
| 压力范围 | 1-60 kPa | |
| 环 境 | ||
| 工作温度 | -20 -60 C | |
| 物 理 | ||
| 长度 | 281 mm | |
| 宽度 | 250 mm | |
| 厚度 | 0.8mm | |
| 更多规格 | ||
| 输出类型 | 电阻 |
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S4表面平整度检测系统 分布式薄膜压力传感器资源附件
| 文件名称 | 大小 | 操作 |
|---|---|---|
| SFD | 1.53 MB | 下载 |
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