产品概述
AE0X微米级光栅尺是英国真尚有科技推出的一款高精度位移检测设备，适用于测量和检查工程物体的位移、尺寸、跳动、表面轮廓和变形。该产品采用创新的绝对测量技术，具备0.1 µm的分辨率和最高±2 µm的测量精度，测量范围覆盖3至55 mm。
核心特点/优势
- 0.1 µm超高分辨率，满足精密测量需求
- 最高±2 µm测量精度，确保测量结果可靠
- 测量范围3至55 mm，适用于多种测量场景
- 支持绝对测量技术，无需归零操作
- 兼容增量编码器信号输出，便于系统集成
- 适用于低反射率、镜面、透明等复杂表面，测量对象无限制
应用领域
- 工程物体位移测量
- 尺寸检测
- 跳动检测
- 表面轮廓测量
- 变形检测
AE0x光栅尺 传感器选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 分辨率 | 0.1 µm | |
| 测量方式 | 绝对测量 | |
| 测量精度 | ±2 µm | |
| 测量范围 | 3 到 55 mm | |
| 输出信号类型 | 增量编码器信号仿真 |
产品替代
找到 个替代产品
温馨提示
若上述内容存在差异，请以产品手册为准。
如需获取样品、技术支持或完整规格书，请点击联系销售。
声明：本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题，请联系本网处理，侵权内容将在一周内下架整改。
传感器相关品牌
广告
传感器同类产品
加载中···
