产品概述
Keysight 4286A 射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围内提供精确、可靠和快速的测量，适用于改进生产线上对电子元件的测试质量和生产率。与反射测量技术不同，该仪器采用直接的电流-电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的测量结果。其高速测量能力和优良的测试重复性显著提升了生产效率。
核心特点/优势
- 采用直流电压测量技术，可在大阻抗范围内实现高精度测量
- 测量速度快，典型测量时间为15ms
- 1%的基本精度，Q测量精度典型值为6% @ 100 MHz，Q=100
- 支持多种测量参数，包括|Z|、|Y|、θ-z、θ-y、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp、Rs、Rp、Q、D
- 测试头电缆长度为1m或3m，便于连接测试点，误差小
- 增强的比较器功能适用于多频或阵列芯片测试
应用领域
- 适用于射频范围内的电子元器件测试
- 用于电路设计中的阻抗测量与性能验证
- 生产线上的自动化测试与质量控制
- 适用于高精度、高重复性要求的电子元件测试场景
选型指南/使用建议
建议根据测试频率范围、测量精度、测试速度等参数进行选型。测试头电缆长度可根据实际测试距离选择1m或3m。仪器在出货前已通过严格测试，确保性能稳定。如需更高精度，可送至计量测试单位进行检测和校准。
HP4286A 精密LCR测试仪选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| Q精度（典型值） | 6% @ 100 MHz，Q=100 | |
| 基本精度 | 1% | |
| 测试头电缆长度 | 1m/3m | |
| 测试电流 | 100μA | |
| 测试频率范围 | 1MHz～3GHz | |
| 测量参数 | |Z|, |Y|, θ-z（度/弧度）, θ-y（度/弧度）, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, Q, D | |
| 测量速度 | 15ms | |
| 频率分辨率 | 100KHz |
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