产品概述
日置 HIOKI3522-50 是一款高性能的LCR测试仪，适用于测量多种电气参数，包括阻抗（|Z|）、导纳（|Y|）、相位角（θ）、等效串联电阻（ESR）、等效并联电阻（DCR）、电容（C）、电感（L）、损耗因数（D）和品质因数（Q）等。该仪器支持恒流或恒压测量方式，测量频率范围覆盖DC至100kHz，具备高精度和快速测量能力，适用于电子元件的测试与质量控制。
核心特点/优势
- 支持多种测量参数，满足复杂测试需求
- 测量频率范围宽，DC～100kHz，适应多种应用场景
- 基本精度高，|Z|精度±0.08%，θ精度±0.05°
- 测量速度快，最快可达5ms
- 配备LCD背光显示，数值清晰易读
- 支持比较器功能，可设定上下限值进行自动判断
- 支持多种测试夹具和探头，扩展性强
应用领域
- 电子元件的阻抗、电容、电感等参数测量
- 电子制造过程中的质量控制与测试
- 研发实验室中对新型电子材料和器件的性能评估
- 电子产品的生产测试与出厂检验
选型指南/使用建议
使用本仪器时需搭配合适的测试夹具或探头，如9140四端子测试探头、9261电缆连接型测试夹具等。建议根据被测元件的类型和频率范围选择合适的测试配置。仪器支持外部打印功能，可连接9442打印机。在使用前应确保仪器已通过校准，并在工程师测试合格后使用。
HIOKI3522-50 测试仪选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 体积及重量 | 313宽×125高×290厚mm，4.5kg | |
| 基本精度 | |Z|: ±0.08%rdg.，θ: ±0.05° | |
| 显示值 | 99999，LCD背光功能 | |
| 比较器功能 | 设定：上、下限值，百分比；输出：3档（高，中，低）,开路集电极 | |
| 测量参数 | |Z|，|Y|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q | |
| 测量方法 | 测量源：恒流10μ～100mA(AC/DC)，或恒压10mV～5V(AC/DC) | |
| 测量时间 | |Z|的典型值 快速:5ms～慢速:828ms | |
| 测量量程 | |Z|，|R|，X：10.00mΩ～200.00MΩ；θ:-180.00～＋180.00°；C: 0.3200pF～1.0000F；L: 16.000nH～750.00kH；D:0.00001～9.99999；Q: 0.01～999.99；|Y|，G，B: 5.0000nS～99.999S | |
| 测量频率 | DC或者1mHz～100kHz | |
| 电源供应 | 100～240V，AC，50/60Hz |
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