产品概述
E4991A 射频阻抗/材料分析仪提供极限的阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能，适用于元器件和电路设计人员在3 GHz以内的元器件测量。与反射测量技术不同，E4991A采用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的测量结果。其基本阻抗精度为+/-0.8%，适用于低功耗元器件分析。
核心特点/优势
- 采用RF-IV技术，提供更精确的阻抗测量
- 基本阻抗精度为+/-0.8%，适用于高Q值测量
- 频率范围1 MHz至3 GHz，扫描分辨率达1 mHz
- 内置合成器，支持宽频段测量
- 支持多种测量选件，如介电/磁性材料测量、晶圆测量、温度特性测量
- Windows风格用户界面，操作直观
- 支持VBA编程，便于自动化测试
- 通过LAN接口实现高速数据传输
应用领域
- 介电/磁性材料测量（选件E4991A-002）
- 可靠的晶圆测量（选件E4991A-010）
- 温度特性测量（选件E4991A-007）
- 适用于元器件和电路设计的研发工作
E4991A 射频阻抗分析仪选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| DC偏置电平（选件E4991A-001） | +/- 40V 或 +/- 50 mA | |
| 扫描分辨率 | 1 mHz | |
| 振荡器电平 | 高达 1 dBm / 0.5 Vrms / 10 mArms | |
| 数据传输接口 | LAN 接口 | |
| 测量技术 | 射频电流–电压（RF-IV）技术 | |
| 用户界面 | Windows 风格用户界面 | |
| 编程功能 | 内置 VBA 编程功能 | |
| 阻抗测量精度 | +/- 0.8% | |
| 频率范围 | 1 MHz 至 3 GHz |
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