日本日置 3522-50 测试仪

分享
2025-12-03 17:33:50
  • 后询价或查看价格

  • 3522-50

  • 测试仪

  • 日本日置

  • 请咨询供应商

  • 深圳方丰瑞仪器

联系销售
专家支持

产品概述

日置 3522-50 LCR测试仪是一款高精度的LCR测量设备,适用于测量电容、电感、电阻等参数。该仪器支持多种测量模式,包括恒流和恒压测量,测量频率范围覆盖DC至100kHz,具备高精度和快速响应的特点。

核心特点/优势

  • 支持多种测量参数,包括|Z|、|Y|、θ、Rp、Rs、G、X、B、Cp、Cs、Lp、Ls、D(tanδ)和Q。
  • 测量频率范围宽,从DC到100kHz,满足多种测试需求。
  • 基本精度高,|Z|精度为±0.08%rdg.,θ精度为±0.05°。
  • 测量时间短,快速模式下仅需5ms,适合高效率测试。
  • 配备LCD背光显示,显示值达99999,清晰直观。
  • 支持比较器功能,可设定上下限值和百分比,输出3档信号。
  • 支持多种测试夹具和探头,适用于不同类型的被测器件。

应用领域

  • 适用于电子元器件的阻抗、电容、电感等参数测量。
  • 适用于电路分析和质量控制。
  • 适用于研发、生产、检测等环节。

选型指南/使用建议

使用本仪器时需搭配合适的测试夹具或探头,如四端子测试探头、针型探头、SMD测试夹具等。建议根据被测器件的类型和频率范围选择合适的测试配置。仪器在出货前已通过严格测试,确保性能稳定。如需更高精度,可送至计量测试单位进行校准。

3522-50 测试仪选型参数

规格项 参数值 勾选搜索替代
更多规格
体积及重量 313宽×125高×290厚mm,4.5kg
基本精度 |Z|: ±0.08%rdg.,θ: ±0.05°
显示值 99999,LCD背光功能
比较器功能 设定:上、下限值,百分比。输出:3档(高,中,低),开路集电极
测量参数 |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
测量方法 测量源:恒流10μ~100mA(AC/DC),或恒压10mV~5V(AC/DC). 检测:电压,AC或DC
测量时间 |Z|的典型值 快速:5ms~慢速:828ms
测量量程 |Z|,|R|,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定), θ:-180.00~+180.00°, C: 0.3200pF~1.0000F,L: 16.000nH~750.00kH,D:0.00001~9.99999, Q: 0.01~999.99, |Y|,G,B: 5.0000nS~99.999S
测量频率 DC或者1mHz~100kHz
电源供应 100~240V,AC,50/60Hz

产品替代

找到 个替代产品
温馨提示

若上述内容存在差异,请以产品手册为准。

如需获取样品、技术支持或完整规格书,请点击联系销售。

电磁和电量传感器交流圈

约20圈友等你加入

    加载中···

    专家支持

    0 / 300

    选择图片

    确定提交

    提交成功

    系统自动将您的问题推送给专家解答

    查看专家解答
    请扫码进入传感圈小程序

    如何查看专家解答您的问题?

    1
    2
    3
    4