产品概述
TD8160是非晶或纳米晶薄片(带)交流磁特性测量的专用设备,适用于材料研发、质量控制及性能优化。该设备由精密励磁及测量装置、单片磁导计和全自动测量软件组成,支持40Hz~65Hz频率范围(可选至400Hz),符合GB/T19345.1-2017标准。TD8160代表中国参与IEC/TC68发起的国际比对,并取得优秀测试结果。
核心特点/优势
- 具备独立的电参量校准功能,确保测量精度。
- 多尺寸单片磁导计可选,适应不同样品测试需求。
- 采用双磁轭结构,支持磁轭退磁和样品退磁。
- 配备专业软件,实现磁性能自动测量、参数计算及曲线绘制。
- 模块化主机设计,便于升级与维护。
- 典型磁参数不确定度低至1.0%,重复性达0.3%,测量稳定性高。
应用领域
- 非晶或纳米晶材料的磁性能测试。
- 材料研发与生产过程中的质量控制。
- 磁性材料在能耗、效率、一致性等方面的优化。
选型指南/使用建议
选型示例:TD8160-400Hz表示仪器测量频率范围为40Hz-400Hz。使用前需进行30分钟以上预热,并对样品进行退磁处理。测量时应固定试样位置,确保10次测量数据的一致性。建议在(23±5)°C环境中操作,频率选择50Hz或60Hz。
TD8160 磁场仪器选型参数
| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多规格 | ||
| 典型磁参数的不确定度(k=2) | 损耗Ps: 3.0%,磁感Bm: 1.0% | |
| 典型磁参数的重复性 | 损耗Ps: 1.0%,磁感Bm: 0.3% | |
| 工作频率F | 40Hz~65Hz(400Hz可选) | |
| 测量次数 | 10次 | |
| 测量温度 | (23±5)°C | |
| 测量频率 | 50Hz/60Hz | |
| 磁场强度Hm | 1A/m~200A/m | |
| 磁极化强度Jm | 10 mT~1.7T | |
| 磁通密度Bm | 10 mT~1.7T |
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