天恒测控 TD8160 磁场仪器

天恒测控 TD8160 单片非晶磁性测量 软磁测试

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2025-12-09 01:48:29
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产品概述

TD8160是非晶或纳米晶薄片(带)交流磁特性测量的专用设备,适用于材料研发、质量控制及性能优化。该设备由精密励磁及测量装置、单片磁导计和全自动测量软件组成,支持40Hz~65Hz频率范围(可选至400Hz),符合GB/T19345.1-2017标准。TD8160代表中国参与IEC/TC68发起的国际比对,并取得优秀测试结果。

核心特点/优势

  • 具备独立的电参量校准功能,确保测量精度。
  • 多尺寸单片磁导计可选,适应不同样品测试需求。
  • 采用双磁轭结构,支持磁轭退磁和样品退磁。
  • 配备专业软件,实现磁性能自动测量、参数计算及曲线绘制。
  • 模块化主机设计,便于升级与维护。
  • 典型磁参数不确定度低至1.0%,重复性达0.3%,测量稳定性高。

应用领域

  • 非晶或纳米晶材料的磁性能测试。
  • 材料研发与生产过程中的质量控制。
  • 磁性材料在能耗、效率、一致性等方面的优化。

选型指南/使用建议

选型示例:TD8160-400Hz表示仪器测量频率范围为40Hz-400Hz。使用前需进行30分钟以上预热,并对样品进行退磁处理。测量时应固定试样位置,确保10次测量数据的一致性。建议在(23±5)°C环境中操作,频率选择50Hz或60Hz。

TD8160 磁场仪器选型参数

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典型磁参数的不确定度(k=2) 损耗Ps: 3.0%,磁感Bm: 1.0%
典型磁参数的重复性 损耗Ps: 1.0%,磁感Bm: 0.3%
工作频率F 40Hz~65Hz(400Hz可选)
测量次数 10次
测量温度 (23±5)°C
测量频率 50Hz/60Hz
磁场强度Hm 1A/m~200A/m
磁极化强度Jm 10 mT~1.7T
磁通密度Bm 10 mT~1.7T

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