SC2010分立器件测试仪系统 美国STI5000C国产替代 能测SiC GaN MOS管 IGBT
半导体分立器件测试系统SC2010
1.1 半导体分立器件测试系统SC2010概述
半导体分立器件测试系统SC2010是一款非常具有代表性的新型半导体晶体管参数测试图示系统,是美国STI5000系列测试机的国产替代机型,本系统可自动生成功率器件的 I-V 曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析, IQC 来料检验及高校实验室等部门有广泛的应 用。系统生成的曲线都使用ATE 系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是 6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入 EXCEL 等格式进一步分析研究,是一款高效多功能的高端半导体测试设备。
本系统使用方便,只需要通过 USB 或者 RS232 与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并 可以实现测试数据以 EXCEL 和 WORD 的格式保存。系统提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测 试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。

1.2 半导体分立器件测试系统SC2010指标
测 试 电 压: ≤2KV
测 试 电 流: ≤100A
电压分辨率: 1mV
电流分辨率: 0.1nA
测 试 精 度: 0.2%+2LSB
测 试 速 度: 约0.5ms/参数
测 试 种 类: 17大类26分类的分立器件
测 试 参 数: 90%以上静态参数
曲 线 功 能: 非常丰富,并支持曲线集合
测 试 方 式: 程控脉冲式
脉 冲 宽 度: 300us至5ms
数 据 存 储: 原始数据自动存储
规 格 尺 寸: 570*450*280mm
1.3 半导体分立器件测试系统SC2010测试范围 / 参数项目
SC2010测试系统是专为测试半导体分立器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实 准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列:
| 序号 | 测试器件类别 | 测试参数列表 |
| 1 | 二极管 DIODE | IR;BVR ;VF |
| 2 | 晶体管(NPN 型/PNP 型) | ICBO ; ICEO ; ICER ; ICES ; ICEV ; IEBO ;BVCEO ;BVCBO ;BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF |
| 3 | J 型场效应管 J-FET | IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;IDSS;GFS;VGSOFF |
| 4 | MOS 场效应管 MOS-FET | IDSS ;IDSV;IGSSF; IGSSR ;VGSF ;VGSR ;BVDSS ;VGSTH ;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS |
| 5 | 双向可控硅 TRIAC | VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH- |
| 6 | 可控硅 SCR | IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;IGT;VGT;IL;IH |
| 7 | 绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT | ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;VGEON;VF;GFS |
| 8 | 硅触发可控硅 STS | IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ; VPK-;VGSW+;VGSW- |
| 9 | 达林顿阵列 DARLINTON | ICBO ; ICEO ; ICER ; ICES ; ICEX ; IEBO ; BVCEO ; BVCER ; BVCEE ;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;VCESAT; VBESAT;VBEON |
| 10 | 光电耦合 OPTO-COUPLER | ICOFF 、 ICBO ; IR ; BVCEO ; BVECO ; BVCBO ; BVEBO ; ; CTR ; HFE ;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode) |
| 11 | 继电器 RELAY | RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME |
| 12 | 稳压、齐纳二极管 ZENER | IR;BVZ;VF;ZZ |
| 13 | 三端稳压器 REGULATOR | Vout;Iin; |
| 14 | 光电开关 OPTO-SWITCH | ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF |
| 15 | 光电逻辑 OPTO-LOGIC | IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF |
| 16 | 金属氧化物压变电阻 MOV | ID+ ID-;VN+; VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ; |
| 17 | 固态过压保护器 SSOVP | ID+ ID- ;VCLAMP+, VCLAMP- ;VT+ 、VT- ; IH+ 、 IH- ; ; IBO+ IBO-;VBO+ VBO-;VZ+ VZ- |
| 18 | 压变电阻 VARISTOR | ID+; ID-;VC+ ;VC- |
| 19 | 双向触发二极管 DIAC | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
1.4 半导体分立器件测试系统SC2010曲线列表及实测列举

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1.5 半导体分立器件测试系统SC2010应用领域
分立器件设计厂家、封装厂、电子产品厂家来料检验、实验室选型配对、设备维修分析、高校器件教学、研究所参数选型等等。

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