精度:0.1 ±% FS |
产品类别:敏感芯片 |
测量介质:气体 |
工作温度:-40~85℃ |
过载压力:360 kPa |
压力类型:绝压 |
测量技术:半导体压阻 |
储存温度:-40℃~125℃ |
工作压力量程:0~120 kPa |
温度补偿范围:25℃~85℃ |
产品类别:敏感芯片 |
压力迟滞:±0.1% Full Scale |
测量介质:气体 |
非线性度:±0.1% Full Scale |
工作温度:-40 to 85 ℃ |
过载压力:7 Bars |
压力类型:差压 |
重复性:±0.5% Full Scale |
测量技术:半导体压阻 |
储存温度:-40 to 125 ℃ |
工作压力量程:0 to 5 Bars |
温度补偿范围:25℃~85℃ |
精度:0.05 ±% FS |
爆裂压力:500 Millibars |
产品类别:敏感芯片 |
测量介质:气体 |
工作温度:-40 to 85℃ |
过载压力:250 Millibars |
压力类型:差压 |
测量技术:半导体压阻 |
储存温度:-40℃~125℃ |
工作压力量程:0 to 5 Millibars |
温度补偿范围:0 to 50℃ |
精度:0.05 ±% FS |
爆裂压力:1200 Millibars |
产品类别:敏感芯片 |
测量介质:气体 |
工作温度:-40 to 85 C |
过载压力:750 Millibars |
压力类型:差压 |
测量技术:半导体压阻 |
储存温度:-40℃~125℃ |
工作压力量程:0 to 50 Millibars |
温度补偿范围:0 to 70 C |
精度:0.05 ±% FS |
爆裂压力:2000 Millibars |
产品类别:敏感芯片 |
测量介质:气体 |
工作温度:-40 to 85 ℃ |
过载压力:1200 Millibars |
压力类型:差压 |
测量技术:半导体压阻 |
储存温度:-40 to 125 ℃ |
工作压力量程:0 to 75 Millibars |
温度补偿范围:0℃~70℃ |
产品类别:敏感芯片 |
压力迟滞:0.01 ±% Full Scale |
测量介质:气体 |
非线性度:0.05 ±% Full Scale |
工作温度:-40 to 85 C |
过载压力:2800 kPa |
压力类型:差压 |
重复性:0.01 ±% Full Scale |
测量技术:半导体压阻 |
储存温度:-40 to 125 C |
工作压力量程:0 to 700 kPa |
响应时间:100μsec |
温度补偿范围:25 to 85 C |
精度:0.5 ±% FS |
爆裂压力:45 psi |
产品类别:敏感芯片 |
测量介质:气体 |
工作温度:-40 to 260 C |
压力类型:绝压 |
测量技术:半导体压阻 |
工作压力量程:0-15 psi |
精度:0.5 ±% FS |
爆裂压力:150 psi |
产品类别:敏感芯片 |
测量介质:气体 |
工作温度:-40 to 260 C |
压力类型:绝压 |
测量技术:半导体压阻 |
工作压力量程:0 to 50 psi |
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